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MOSFET工藝參數揭秘:合科泰的技術突圍之道

2025-07-10 來源: 作者:廣東合科泰實業有限公司 原創文章
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關鍵詞: MOSFET 工藝參數 氧化層厚度 溝道長度 摻雜濃度

MOSFET參數性能是選型的關鍵,而決定其性能的是關鍵工藝參數調控。作為國家級高新技術企業合科泰深入平面與溝槽等工藝的協同,致力于在氧化層厚度、溝道長度和摻雜濃度等核心參數上突破。如今,合科泰的MOS管被廣泛地應用在汽車電子、消費電子當中

氧化層厚度

氧化層厚度直接影響MOS的閾值電壓。氧化層越薄,閾值電壓越低,呈正相關;而隨之而來的,是器件的導通電阻越小,開關速度越快。同時,也會帶來柵極漏電流增大、可靠性降低等一些問題。在平面工藝中,合科泰通過化學氣相沉積技術,把氧化層厚度控制在12-15nm(如HKTD4N65),確保高耐壓下的長期穩定性;采用超薄氧化層設計的溝槽工藝大幅降低了導通電阻,以此滿足了高頻開關電源的嚴苛能效要求。

溝道長度

溝道長度是決定開關速度的關鍵參數。溝道長度過小的短溝道效應,會導致器件的漏電多、擊穿電壓低,同時還會導致制造難度及成本增加。因此需要在性能和成本之間控制權衡。合科泰引入ASM全自動光刻設備,結合SGT工藝深溝槽刻蝕技術,在先進光刻技術和工藝的加持下,可以盡可能地縮小短溝道效應影響。

摻雜濃度

摻雜濃度調控可以改變載流子的濃度和遷移率,進而精確地調整導通電阻、擊穿電壓等性能參數,這是MOS性能定制化的核心原理。超結工藝通過多層外延與深槽填充技術,實現較傳統平面MOS能效提升50%。如果在高壓MOS提高漏極區域的摻雜濃度,就可以增加擊穿電壓;要是在低導通電阻的MOS提高溝道區域的摻雜濃度,就可以降低導通電阻。

仿真技術

在實際制作MOS管之前,使用仿真技術可以對進行性能的模擬和預測。仿真技術模擬的過程可以縮短研發周期還可以降低成本和發現潛在的問題。除了仿真技術外,合科泰等廠商還會利用X-RAY檢測機和超聲波掃描機獲取精準物理參數。

結語

MOS管工藝參數的深入了解,促使合科泰生產出可定制、高可靠的MOS關產品。合科泰搭建全流程質量控制獲取的ISO9001、ISO14001和IATF16949質量體系認證幫助合科泰MOSFET產品形成多種類、多層次、多種應用領域的完整布局MOSFET涵蓋從低壓到高壓、從消費電子到工業級應用提供兼具可靠性與成本優勢的解決方案。

 




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